TopMap Micro.View +は、次世代の光学式形状測定 器です。モジュール方式のデザインによって、この総合的なワークステーションは、それぞれの要求に合わせたアプリケーション特有の構成を可能にしま す。Micro.View +は、表面粗さ、表面の詳細、および微細構造の形状測定について、詳細な分析を提供します。3D データをカラー情報と組み合わせて、欠陥を詳細に記録するなどの見事な視覚化や広範囲の分析を実現します。高解像度カメラは、非常に詳細な設計表面の3D データを視覚化します。

エンコードされ電動化されたターレットは対物レンズ をシームレスに入れ換えます。Micro.View +は、最新のフォーカスファインダおよびフォーカストラッカを備えており、あらゆる状況で表面にフォーカスを合わせます。