微粒子分散系の分散・凝集状態の支配因子として粒子径、粒子の形状ファクター、ゼータ電位、粒子と溶媒の親和性、粘度などを的確に把握することは、品質管理や新製品開発において重要な課題である。既存の分析ツールでは原液のままでは分析できず、希釈するとソルベントショック、粒子と添加剤の吸着バランス、イオンの濃度、ｐＨなどが変化してしまうために、実液系での分散状態を反映されない恐れがある。
日本ルフトは、このような問題点を克服し、希釈不要で原液のまま測定できる分析装置を輸入販売して原液の分散・凝集状態をよりリアルな状態で評価できるようにした。

■ 超音波方式粒子径・ゼータ電位測定装置（DT-1202）
超音波を利用して原液で粒子径・ゼータ電位を測定できる

■ 動的光散乱方式　遠隔非接触型ナノ粒子径分布測定装置（VASCO FLEX）
非接触なのでサンプリングせず濃厚系ナノ粒子を測定可能

■ 動的光散乱方式濃厚系ナノ粒子径分布測定装置（VASCO）
テーブルセル使用とサンプル厚みを変えることができ希薄系～濃厚系まで粒子径を簡便に測定可能

■ スマート画像解析粒子径測定装置（SOPAT-VI）
高濃度の状態で２μｍ以上の粒子をプローブ式顕微鏡とCCDカメラで粒子の画像を取得し、粒子径分布を測定可能で、低い温度〜高い温度、高圧の状態でインラインの使用も可能

■ パルスNMR粒子界面特性評価装置
プロトンの緩和時間を測定して、粉砕プロセスのモニタリング、粒子の表面修飾状態、濡れ性などを濃厚系で測定可能